通/断校准法校准相控阵天线

相控阵天线

相控阵天线的性能很大程度上受到单元故障和误差的影响。有源部件的增加会提高故障率，加上传输线、移相器的制造公差和机械变形，造成辐射方向图畸变。恢复天线性能需要进行测量和校准，找出产生故障和误差的单元进补偿和更换。相控阵的测量主要围绕辐射参数，以评价天线性能；校准是通过逐个测量或一定的方法，计算每个单元激励，并根据理论值进行补偿，相控阵天线的测试中，测量和校准是相辅相成的。

一般相控阵的通/断校准在远场环境中进行，但是由于远场环境要求的距离较远，受环境影响较大，可以改到紧缩场中进行。紧缩场利用光学原理可以在较短的距离内测试，在进行相控阵校准时能够提高测试精度。

通/断校准

通/断校准实施起来较为简单，但难以消除由于天线单元互耦引入的误差。随着入射角度不同，互耦效应带来的误差会随着角度增大而增大，导致相位权值的误差更加明显。这种误差会造成波束指向不准，信噪比降低，波束之间互；相干扰增大。单点校准需要考虑在校准和波束成形算法上降低这种误差。