产品概况
SPCR-Parallel是新益技术面向研发和量产环节的一款平面及柱面近场综合扫描系统。主要应用于中小型定向辐射天线的口面辐射性能检测，具有安装环境要求低，检测速度快，可扩展性强的优点。
适用范围
SPCR-Parallel适用于方向性较强的天线的测试，例如抛物面天线、雷达、小型相控阵天线，通过应用不同的链路方案最高可支持至90GHz的频率测试，对于18GHz以下频段还支持多探头测试使得测试效率大幅提升。
测试能力
- 频率范围：From 10GHz~ upto 90GHz；
- 测试范围：定向天线、天线阵面监测、大规模MIMO多波束测试、多阵元幅相校正、波束目标追踪、汽车防撞雷达传感器；
- 测试项目：有源/无源方向图、增益、交叉极化等
系统配置
- 高精度XYZ全伺服运动扫描机构；
- 被测物承台，包含纵向旋转轴，可实现柱面近场测试；
- 全屏蔽无反射微波暗室；
- 有源及调制信号测试支持；
- 自动化数据处理系统（含近远场数据变换）；
系统参数
| 频率范围 | 10GHz～90GHz |
| 测量精度 | 幅度≤0.2dB
相位≤2° |
| 波束测试误差 | ≤1/8波束宽度 |
| 波束指向误差 | ≤1/40波束宽度 |
| 增益测量最大测量误差 | ≤0.5dB（标准增益喇叭误差除外） |
| 副瓣电平最大测量误差 | ≤1.0db@-25db副瓣，
≤2.0db@-35db副瓣， ≤3.5db@-45db副瓣 |