SY-180天线测量系统

               SY-180大型天线测量系统，支持有源、无源天线测量，凭借着1.875°的探头采样密度，测量更精确，尤其适用于基站天线及大型天线测量（被测物直径小于4.0m）。

• 基本参数:

                      探头个数：180个

                      测试频率范围：400MHz-8GHz

                      被测设备（DUT）最大尺寸：3.4m

                      被测设备的最大质量：120kg

                      典型动态范围：50-70dB

                      静区反射电平：0.4GHz-0.6GHz<-35dB

                                                    0.6GHz-1GHz<-40dB

                                                    1GHz-6GHz<-45dB

                      暗室屏蔽效能：≤-110dB（可选）

                      可选的电波暗室尺寸：12m*11m*11m

                      静区直径（400MHz-6GHz）:3.4m

                      探头阵列直径（内径）:7.2m（可定制）

                      多轴转台：（1）方位轴 （2）俯仰轴（3）X位移轴 （4）升降轴（可选）

                      探头陈列角度: 1.875°

 

• • 被测物辐射口径尺寸(m):

• 系统优势:

                       快速测量 ：本系统实现了实时无源方向图，采用探头对称分布，正常测量情况下，水平方向只需旋转180°即可对被测物进行完整的3D测量。软件自动化实现测试功能，

                        并自动生成测试报告。

                       功能更强大：支持400MHz-6GHz频段的无源测试。能支持大型天线的有源、无源测量，尤其适用于BTS天线的测量。

• 可测量参数                                            

•  测试速度