SY-64/68探头球面近场天线测量系统,支持400MHz-8GHz,6GHz-18GHz频段测试,支持标准接口二次开发。相比标准SY-24系统,支持更大的静区测量范围(被测物直径可达2.5m),更高的采样密度,支持有源及无源测量,亦可测量小型基站天线,适用于终端厂商、第三方实验室、基站研发等测试研究机构。
- 基本参数:
探头数:64个 / 68个
测试频率范围:400MHz-8GHz,6GHz-18GHz
天线增益(10dBi)系统测试误差(dB):
0.4GHz-0.8GHz ≤±0.7;
0.8GHz-1GHz ≤±0.5;
1GHz-6GHz ≤±0.5;
天线增益(10dBi)系统可重复性(dB):0.4GHz-6GHz ≤±0.3;
被测设备(DUT)最大尺寸:2.75m
被测设备的最大重量:70kg
典型动态范围:50-70dB
暗室屏蔽效能:≤-110dB(可选)
探头阵列直径(内径/外径): 3.2m/3.8m、4m/4.6m、5m/5.6m
静区直径(0.4GHz-6GHz):2.8m
可选的电波暗室尺寸:5m*5m*5m、
6m*6m*6m、
7m*7m*7m
多轴转台:五轴转台或两轴转台
探头阵列角度: 5.3° / 5°
旋转精度:0.01°
- 系统优势:
快速测量:系统采用多探头环状对称分布,正常测量情况下,水平方向只需旋转180°即可对被测物进行完整的3D测量,测量速度远远高于其它探头分布类型的测量系统。
实时展示:配套分析软件提供实时计算和展示功能。
功能强大:支持400MHz-6GHz频段无源测试,大型天线的有源、无源测量,尤其适用于BTS天线的测量。
- 测试功能 :
可测量参数 | |||
轴比 | 前后比 | 天线方向性 | 下倾角精度 |
旁瓣电平 | 天线效率 | 不圆度测试 | 相位中心测试 |
电平下降 | 天线增益 | 天线波瓣宽度 | 方向图一致性 |
零点填充 | 波束偏移 | 天线交叉极化 | 2D/3D方向图 |
支持有源天线测试的EIRP、TRP、EIRS、TIS指标 |
- 测试速度 :
无源测试时间 | |
查看方向图 | 实时 |
3D图测试时间 | <1分钟 |