新益技术参加美国CTIA展会 SY小型天线测试系统闪耀会场

摘要：2016年9月9日美国拉斯维加斯无线通信产品展览会(CTIA WIRELESS 2016）于拉斯维加斯金沙会展中心（Sands Expo & Convention Center）开幕，新益技术于展会现场展出的SY小型天线测试系统以其独特小巧的外观、稳定强大的性能吸引了大批专业人士前来观展闪耀会场。

2016年9月9日美国拉斯维加斯无线通信产品展览会(CTIA WIRELESS 2016）于拉斯维加斯金沙会展中心（Sands Expo & Convention Center）开幕，CTIA无线通信展被认为是全球大规模的专注于无线领域的盛会，展出内容涵盖了无线行业的网络设施、无线服务、终端用户软件、应用和附件等各个方面。

CTIA无线通信展是与德国3月的CeBIT展、西班牙2月的3GSM大会有着同等影响力的业界盛事，也是美国同类展示会中规模大、影响深、参加人数多的通信技术展，代表了无线通信、互联网、计算机和移动数据的新发展动态。

参展现场大咖云集，知名企业包括LG、SAMSUNG、摩托罗拉、诺基亚西门子 、朗讯阿尔卡特、诺基亚、爱立信、海尔、高通、Verizon、微软、德州仪器、AT&T，以及我国的华为、中兴。

作为天线测量领域的专家，新益技术此次也有幸参展，借此良机将产品推向海外市场。新益技术推出的SY小型天线测试系统受到业内人士的广泛追捧，得益于多年来在天线测试领域投入的大量技术研发精力和对待每一个产品的工匠精神。

SY系列天线测量系统测量产品类型丰富、测试稳定，小到手机、路由、大到基站天线的测试，客户都能找到满意的测量系统。

展会现场展出的SY-16M天线测试系统以其独特小巧的外观、稳定强大的性能吸引了大批专业人士前来观展闪耀会场。

庆祝无线通信产品展览会圆满落幕。