SCR-5000线阵多探头柱面测试系统
新益SCR-5000柱面测试系统，系行业内首创线阵多探头柱面测试系统，创新的将球面多探头技术融合到柱面，在大幅度节约占地空间和成本的情况下，保证测试精度。该系统采用多探头校准技术，电子固态开关快速采集数据，测量天线3D方向图，同时根据用户需求扩展测试驻波、隔离度等S参数信息。根据柱面系统的特点，该系统特别适用于垂直面波束较窄的基站天线的测量。
总的来说，用一个测“互调”或“驻波”的暗室代价，就可以实现测“3D方向图”的回报，特别适合研发定型诊断测试与生产批量抽检。。
系统优势
- 测试速度快：多探头设计，媲美球面多探头测试效率，水平安装，方便快捷。
- 系统高性价比：与球面近场系统相比占用空间小，成本低，最大程度上保证了测试精度。
- 过采样技术：多探头结构可移动，实现Z轴的过采样，可以测量更大的天线。
基本参数
| 探头个数 | 50个 |
|---|---|
| 柱面长度 | 5000mm |
| 被测设备（DUT）最大长度 | 4000mm |
| 被测设备（DUT）最大质量 | 100kg |
| 测试频段 | 400-6000MHz |
| 可选的电波暗室尺寸 | 5.2m*3.5m*3m(L*W*H) |
测试效率
| 9-13min频段（MHz） | 频段（MHz） |
|---|---|
| 400-960 | 3-4min |
| 960-1700 | 5-8min |
| 1700-2700 | 9-13min |
| Above 2700 | >15min |
软件界面
可测试参数
| 近场方向图（2D/3D） | 远场方向图（2D/3D） |
| 旁瓣电平 | 增益 |
| 交叉极化鉴别率 | 波束宽度 |
| 前后比 | 不圆度 |
| 下倾角精度 | S参数（驻波/隔离） |
系统精度
| 测试项目 | 稳定性 | 准确性 |
| 半功率波瓣宽度 | <±0.2dB | <±5% |
| 交叉极化鉴别率 | <±0.2° | ±3dB |
| 副瓣 | <±0.2dB | <±0.5dB |